光電直讀光譜儀公司的行業(yè)須知-鋼研納克

硫是*的雜質(zhì)，在鋼中要嚴(yán)格限制其含量。硫作為常規(guī)分析非金屬元素，其激發(fā)產(chǎn)生的特征波長(zhǎng)較長(zhǎng)，能量較低，受光路的影響較大，所以它是光譜儀分析元素中較為敏感的元素。在日常分析中，儀器的*移，如電源異常、設(shè)備震動(dòng)、光電倍增管的老化等所造成的影響對(duì)硫來(lái)說(shuō)，激發(fā)強(qiáng)度一般都是向低端偏離，容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確性。
光電光譜分析選用的分析線，必需符合下列要求
直讀光譜分析時(shí)，一般都采用內(nèi)標(biāo)法。因內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行分析時(shí)常采用多條分析線和一條內(nèi)標(biāo)線組成，常用試料中的基體元素為內(nèi)標(biāo)元素。組成的線對(duì)要求均稱，就是當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí)，兩條線對(duì)的譜線強(qiáng)度雖有變化，但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。
如r表示強(qiáng)度比即
r=i1/i0
i1為分析線的強(qiáng)度，io為內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度，表明i1和io同時(shí)變，光電直讀光譜儀公司，而r則不受影響。r與含量c之間有線性關(guān)系。
在光電直讀光譜分析時(shí)，有很多分析通道，要安裝許多內(nèi)標(biāo)通道有困難，因此采用一個(gè)內(nèi)標(biāo)線。但有人認(rèn)為再要提高光電光譜分析的準(zhǔn)確度還得采用不同的內(nèi)標(biāo)線，這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來(lái)解決。
光電法時(shí)，有時(shí)還用內(nèi)標(biāo)線來(lái)控制*量，稱為自動(dòng)*，也就是樣品在*時(shí)，分析線和內(nèi)標(biāo)分別向各自積分電容充電，當(dāng)內(nèi)標(biāo)線的積分電容器充電達(dá)到某一預(yù)定的電壓時(shí)，自動(dòng)截止*。此時(shí)分析線的積分電容器充電達(dá)到的電壓即代表分析線的強(qiáng)度i，并且亦即代表分析線的強(qiáng)度比r(因?yàn)閞=i1/io，而此時(shí)io保持常數(shù))這個(gè)強(qiáng)度i或強(qiáng)度比r就由測(cè)光讀數(shù)所表示。
現(xiàn)在一般采用計(jì)時(shí)*法較為普遍。
直讀光譜儀器的誤差來(lái)源有哪些？
1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過(guò)程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無(wú)規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。
3)過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。
光電直讀光譜儀公司的行業(yè)須知-鋼研納克由鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司提供。鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司在分析儀器這一領(lǐng)域傾注了諸多的熱忱和熱情，鋼研納克一直以客戶為中心、為客戶創(chuàng)造價(jià)值的理念、以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng)，衷心希望能與社會(huì)各界合作，共創(chuàng)成功，共創(chuàng)*。相關(guān)業(yè)務(wù)歡迎垂詢，聯(lián)系人：李經(jīng)理。