PS-200紫外可見光譜儀

ps-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。特點：
便攜堅固的鋁制外殼設(shè)計
apogee 的余弦校正器，確保低角度光的**測量
在標(biāo)定的測量范圍300—1000nm((nist 可追溯性)內(nèi)分辨率小于1nm
apogee 紫外近紅外光譜儀 ps-200配置：
1：光譜儀主機
2：2米光纖線纜
3：余弦校正放射頭黑帽
4：水平安裝座
5：校準(zhǔn)證書
6：usb驅(qū)動、采集軟件等文件
7：藍色usb線纜
8：手提箱
9：手持延長桿
10:1年保修
標(biāo)準(zhǔn)軟件特征：
發(fā)光測量：測量以瓦特每平方米每納米或摩爾每平方米每秒每納米為單位；同時顯示完整的ppf值。
照明度測量：測量以流明每平方米每納米或尺燭光每平方英尺為單位；同時顯示完整的lux值。
cie（國際照明委員會）應(yīng)用：系統(tǒng)顯示cie制定的1931年x、y色度圖。照明模式下顯示占有優(yōu)勢的波長和純度，發(fā)光模式下顯示顏色溫度。
分光比色計：測量反射光線的顏色。同時系統(tǒng)會顯示非自照明的顏色空間圖表作為參照，圖表對色彩濃度、色差、x、y、三基色和delta-e等做了色彩評估和說明，并提供新的delta-e色彩對比表。
化學(xué)成分測量：測量化學(xué)成分的濃度。同時系統(tǒng)會顯示濃度標(biāo)度，或者將之前已經(jīng)測量好的化學(xué)成分濃度與未知的樣品做對比。
uv測量：測量uv能量分布狀態(tài)。將uva、uvb、uvc、uva/uvb比率等以瓦特為單位繪制線形圖；提供紅斑和黑素原發(fā)生作用的*大時間。
技術(shù)指標(biāo)：
光譜波長：190～850nm
校正波長范圍：300～850nm.
波長分辨率：0.85nm
探測器類型：ccd 2048像素
光柵類型：全部手寫和統(tǒng)計，590 g/mm
數(shù)字轉(zhuǎn)化：16 bit
信號噪聲比：1000:1
散射光：0.02%在435nm ; 0.2%在200nm
重復(fù)性：＜1%
不準(zhǔn)確度：±10%
探測器曝光時間：1ms-65s
定向響應(yīng)（到80°）：±5%
輸出接口：usb
電源要求：5v dc/100ma，采用usb線纜
工作溫度：0-60℃
光纜長度：2米
尺寸：69*100*150mm
重量：900g